| 专利名称 | 电化学原位膜导电性测量仪 | 申请号 | CN200510119013.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1808156 | 公开（授权）日 | 2006.07.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春应用化学研究所 | 发明（设计）人 | 牛利;张齐贤;冯云祥;由天艳;杨贵福 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01) | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01) | 专利有效期 | 电化学原位膜导电性测量仪 至电化学原位膜导电性测量仪 | 法律状态 | 专利申请权、专利权的转移 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种原位电化学膜导电性测量仪，是 由上位机单元S、下位机单元X、电流测量单元L和电导测量 单元D四个单元组成；上位机单元X是一台计算机，存储和 运行本发明的软件程序；下位机单元X控制电流测量单元L 和电导测量单元D；本发明集成了传统的电化学工作站的技术 优点，同时分别使用可选择设置的直流和交流偏转电位的方 法，可以在电化学信号采集的同时，可以实时的测量膜的导电 性的变化；引入最新的USB2.0控制技术具有采集速率高，输 出功率大等特点；内置波形表，可以十分方便的定制任意电位 波形的输出，有基于微软视窗XP系统平台的XP风格控制采 集软件系统。 |
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