| 专利名称 | 基于步进扫描的红外调制光致发光谱的方法及装置 | 申请号 | CN200610023133.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1804591 | 公开（授权）日 | 2006.07.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 邵军;陆卫;吕翔;越方禹;郭少令;李志锋;褚君浩 | 主分类号 | G01N21/64(2006.01) | IPC主分类号 | G01N21/64(2006.01);G01N21/88(2006.01) | 专利有效期 | 基于步进扫描的红外调制光致发光谱的方法及装置 至基于步进扫描的红外调制光致发光谱的方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于步进扫描的红外调制光致发光谱的方 法及装置，该装置包括傅立叶变换红外光谱测量系统、作为激 发光源的激光器、以及联结傅立叶变换红外光谱仪中探测器与 电路控制板的锁相放大器、置于样品与激光器之间光路上的斩 波器，从而使连续激发光变为调制激发光，并馈入锁相放大器 的输入参考端来控制锁相。该方法使用上述装置进行红外调制 光致发光谱测量，包括消除室温背景辐射；消除傅立叶频率和 增强中、远红外波段光致发光微弱信号的探测能力三个功能。 经过对低x组分Hg1－ xCdxTe材料光致 发光谱的测试，表明：本发明显著提高探测灵敏度和光谱信噪 比，并具有快速、便捷的优点，特别适用于中、远红外光电材 料微弱光致发光特性的检测。 |
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