| 专利名称 | 波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法 | 申请号 | CN201210074732.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102636333A | 公开（授权）日 | 2012.08.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 曾爱军;朱玲琳;李凡月;袁乔;黄惠杰 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法 至波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法，该装置由准直激光器、圆起偏器、一维光栅、标准四分之一波片、第一渥拉斯顿棱镜、第二渥拉斯顿棱镜、第三渥拉斯顿棱镜、第一准直透镜、第二准直透镜、第三准直透镜、第一双象限探测器、第二双象限探测器、第三双象限探测器、衰减器和信号处理系统组成，本发明能同时且实时地测量波片的相位延迟量和快轴方位角，测量范围大且测量结果不受初始光强波动、衍射效率差异和子光束电路常数差异的影响。 |
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