| 专利名称 | 一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置 | 申请号 | CN201210117123.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102636271A | 公开（授权）日 | 2012.08.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 鲍华;饶长辉;李梅 | 主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/00(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置 至一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置，由光束匹配系统、成像透镜、分光镜、反射镜、带有小孔的反射镜、平移机构和光电探测器CCD组成，其特征在于所述的差分光学系统：可通过一个光电探测器同时获得同一目标的焦面图像和离焦面图像；不损失待成像目标的光强能量；离焦面可获得从零逐渐增大的连续可调离焦量；焦面和离焦面图像在光电探测器CCD靶面中的位置能任意调整。相对于目前用于相位差法的各种成像技术，本发明结构简单稳定，可通过一个光电探测器同时获得焦面和离焦面两幅图像，能灵活调整用于相位差法的各项参数，并且能实现最大光能利用，为相位差法波前测量技术在实际工程，尤其是弱光条件下的运用奠定基础。 |
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