| 专利名称 | 纳米材料测试装置 | 申请号 | CN201120538631.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202383095U | 公开（授权）日 | 2012.08.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明（设计）人 | 文闻;张兴民;高梅;杨铁莹;何庆;周兴泰 | 主分类号 | G01N23/207(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/207(2006.01)I;G01K7/02(2006.01)I | 专利有效期 | 纳米材料测试装置 至纳米材料测试装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种纳米材料测试装置，包括一个石英管，所述石英管两端各由一个固定架固定并密封，石英管旁设置加热部件，石英管内部设置温度传感器。本实用新型阐述的纳米材料测试装置使待测纳米材料在高温气氛下，能够精确的对其温度和衍射光谱信号进行测量和收集，大大方便了纳米材料的基础研究工作。 |
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