一种纳米硫系化合物相变存储器的制备方法

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专利名称 一种纳米硫系化合物相变存储器的制备方法 申请号 CN200510030637.6 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN1780012 公开(授权)日 2006.05.31 申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 宋志棠;马友鹏;封松林;陈邦明 主分类号 H01L45/00(2006.01) IPC主分类号 H01L45/00(2006.01) 专利有效期 一种纳米硫系化合物相变存储器的制备方法 至一种纳米硫系化合物相变存储器的制备方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明涉及一种纳米硫系化合物相变存储器的 制备方法,属于微电子领域。本发明的特征在于,在硅基片上, 先生长一层SiO2,然后在上面沉 积一层底电极。接着在电极上面,均匀生长一些相变纳米点, 最后沉积一层相变薄膜。退火处理后,可在电极上形成较高的 纳米点。接着沉积一层SiO2,用 CMP进行抛光使其平整,沉积顶电极。整个存储器的结构见 图8。施加脉冲信号,并测量其I-V特性,电阻率有较大的变 化。本发明通过生长硫系化合物纳米点,为制备相变存储器提 供了一种新的方法。

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