| 专利名称 | 用位移传感器测量聚合物基泡沫材料线膨胀系数的方法 | 申请号 | CN200410009835.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1779452 | 公开（授权）日 | 2006.05.31 | 申请（专利权）人 | 中国科学院理化技术研究所 | 发明（设计）人 | 付绍云;潘勤彦;黄传军;赵立中 | 主分类号 | G01N25/16(2006.01) | IPC主分类号 | G01N25/16(2006.01);G01B7/16(2006.01) | 专利有效期 | 用位移传感器测量聚合物基泡沫材料线膨胀系数的方法 至用位移传感器测量聚合物基泡沫材料线膨胀系数的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种用位移传感器测量聚合物基泡沫材料线膨 胀系数的方法：首先将待测材料的测量区固定在位移传感器两 钳臂的端部间，并置入4.2－300K温区中；再将传感器中的相 互连接成惠斯通桥的电阻应变片的连接引线与电阻应变仪连 接，电阻应变仪与计算机相连；待测材料在所处的温区中随温 度变化而发生变形，位移传感器两钳臂间随待测材料的变形而 产生夹持力，惠斯通桥的电阻应变片将变形的位移量转换为电 量，电阻应变仪将惠斯通桥的输出信号放大后传给计算机，计 算机进行处理并绘制出该待测材料的应变随温度变化的曲线， 由该曲线便可得出待测材料的线膨胀系数。该方法安全、可靠， 适宜测量聚合物基泡沫材料在宽温区的线膨胀系数。 |
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