| 专利名称 | 一种焦面探测器精密热控机构 | 申请号 | CN201220250262.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202677222U | 公开（授权）日 | 2013.01.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 杨文刚;王晨洁;凤良杰;王英豪;杜云飞;樊学武 | 主分类号 | G05D23/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G05D23/20(2006.01)I | 专利有效期 | 一种焦面探测器精密热控机构 至一种焦面探测器精密热控机构 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种焦面探测器精密热控机构，包括真空箱体、制冷组件、冷屏组件、加热组件以及温度采集单元，还包括设置在真空箱体的外侧以及加热组件外侧的隔热层，制冷组件包括制冷器基板、至少一个探测器制冷器、至少一个冷屏制冷器、热管组件以及散热板。本实用新型解决了现有传统的光电探测器热控机构主要依靠被动散热方式进行温度控制，很难实现不同工作模式下的温度快速变化的技术问题，采用主动制冷和主动加热相结合的方式，通过对热控系统结构的合理设计，不仅能够使探测器温度迅速变化以满足不同工作模式下的温度需求，而且能够对温度范围进行精密控制，同时系统工作可靠性高。 |
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