| 专利名称 | 测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置 | 申请号 | CN201210359091.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102879093A | 公开（授权）日 | 2013.01.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 黄文发;李学春;汪小超;王江峰;彭宇杰;张若凡;范兴诺 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置 至测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置，其构成包括连续光纤激光器、光纤隔离器、1×2光纤分束器、双包层光纤放大器、光纤环行器、温度控制系统、单模光纤、2×2端口3dB分束器、带通滤波器、光电探测器、电谱分析仪。本发明利用液氮对光纤进行温度可控的制冷，并采取光外差探测技术测量光纤中受激布里渊散射增益谱，可提高测量精度。本发明具有可实现全光纤化，温度可控，结构紧凑，测量精度高的特点。 |
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