| 专利名称 | 用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法 | 申请号 | CN200410090806.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1773276 | 公开（授权）日 | 2006.05.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 高文;张京芬;蔡津津;贺思敏;曾嵘;陈润生;王海鹏 | 主分类号 | G01N30/86(2006.01) | IPC主分类号 | G01N30/86(2006.01);G06F19/00(2006.01) | 专利有效期 | 用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法 至用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种用串联质谱中碎片离子的同 位素峰预测离子分子式的方法，该方法从串联质谱和从各元素 的原子个数待定的通用分子式中分别获取碎片离子的单同位 素的质量以及各同位素谱峰相对于单同位素的相对丰度；将分 别获取的质量和相对丰度做匹配以获得所述通用分子式中待 定的各元素的原子个数的非负整数解，得到碎片离子的分子 式。本发明的方法利用串联质谱中碎片离子的同位素谱峰信 息，通过串联质谱碎片离子的同位素谱峰的模式计算此碎片离 子对应的分子式。本发明的方法可以提供碎片离子准确的分子 式信息，可对鉴定多肽序列的数据库搜索方法提供的候选序列 进行鉴别；以及为求解多肽序列的de novo方法产生高可靠候 选序列提供依据。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障