| 专利名称 | 基于测量漏电变化的在线电路老化预测方法 | 申请号 | CN201110341368.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102435931A | 公开（授权）日 | 2012.05.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 韩银和;靳松;李华伟;李晓维 | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 专利有效期 | 基于测量漏电变化的在线电路老化预测方法 至基于测量漏电变化的在线电路老化预测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种基于测量漏电变化的在线电路老化预测方法，包括：步骤一、在电路处于空闲时，向关键通路上的关键门施加多个测量向量，得到对应于所有测量向量的所有关键门漏电变化的线性方程；步骤二、联立对应于所有测量向量的所有关键门漏电变化的线性方程，以形成关键门的漏电变化线性方程组；步骤三、求解关键门漏电变化线性方程组，得到所有关键门漏电变化量，一条关键通路的漏电变化量是这条通路上所有关键门的漏电变化量之和；和步骤四、根据关键通路的漏电变化量和时延变化量之间的相关性来预测关键通路由于NBTI效应导致的老化。通过测量漏电变化来预测电路由于NBTI效应导致的老化，避免电路执行功能操作时产生的实时噪声对测量精度的影响。 |
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