| 专利名称 | 检测读取操作对临近单元干扰的方法 | 申请号 | CN201110391394.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102436850A | 公开（授权）日 | 2012.05.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 陈巍巍;陈岚;龙爽;杨诗洋 | 主分类号 | G11C29/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G11C29/00(2006.01)I | 专利有效期 | 检测读取操作对临近单元干扰的方法 至检测读取操作对临近单元干扰的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供的检测读取操作对临近单元干扰的方法，同时选通多根连续位线，在读取存储单元的信息的同时，测量与被读取存储单元施加较高电压的位线相邻的至少一根位线的电压，计算流过与所述被读取存储单元临近的存储单元的泄露电流，通过比较泄露电流与预设电流值，可以检测与被读取存储单元临近的存储单元在读取操作时是否受到干扰。另外，本发明提供的检测读取操作对临近单元干扰的方法，通过判断泄露电流的大小，可以检测被读取存储单元的读取精度是否受到干扰。 |
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