| 专利名称 | 一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法 | 申请号 | CN200810239330.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101750553A | 公开（授权）日 | 2010.06.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 刘禹;关强;赵健;曾隽芳 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法 至一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明为一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法，包括待测标签支架、收发及参考天线支架、收发及参考天线置于标准测试环境内；环形器、频谱分析仪、RFID信号发生器、功率计置于标准测试环境外；方法是将RFID标签芯片和天线看作整体，用电磁波在自由空间的传播公式，通过参考和收发天线测量RFID标签系统的输入和输出电平，推算能够激活RFID标签工作的最小电平，再对RFID标签的理论读取距离评估。通过对决定RFID标签性能的重要指标之一的RFID标签功耗进行科学、可重复、可比较的非接触测量，解决现有技术指标不明确、测试结果误差大的问题，为使用者根据不同应用需求选择RFID标签产品提供辅助决策依据。 |
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