| 专利名称 | 一种RFID标签天线一致性的基准测试系统及方法 | 申请号 | CN200810239329.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101750552A | 公开（授权）日 | 2010.06.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 刘禹;赵健;关强;曾隽芳 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种RFID标签天线一致性的基准测试系统及方法 至一种RFID标签天线一致性的基准测试系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种RFID标签天线一致性的基准测试系统及方法，由水平导轨、导轨滑块、滑块控制器、待测标签支架、天线支架、测试天线、RFID信号仿真器、控制台组成，通过测量同一款RFID标签的若干样本在不同参考距离点下的接收信号强度值而得到一组关于距离——接收信号强度的曲线，并通过统计多个样本的标准差之和来评估RFID标签在加工过程中产生的一致性及稳定性问题，从而为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。 |
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