| 专利名称 | 一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法及其装置 | 申请号 | CN200910020843.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101776454A | 公开（授权）日 | 2010.07.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 吴易明;高立民;胡晓东;赵军丽 | 主分类号 | G01C15/10(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C15/10(2006.01)I | 专利有效期 | 一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法及其装置 至一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法及其装置 | 法律状态 | 专利权质押合同登记的生效、变更及注销 | 说明书摘要 | 一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法及其装置，该方法包括建立坐标系OXYZ、自准直仪对直角反射棱镜进行瞄准，记录瞄准示值β1；位于第二状态时，自准直仪对直角反射棱镜进行瞄准，并记录瞄准示值β2、由第二状态至第三状态时，自准直仪再对直角反射棱镜进行瞄准，并记录瞄准示值β3以及对3次测量的β1、β2以及β3按照其矢量关系进行处理的步骤。本发明测量精度可以控制在8″以内，同时具有测量原理简单，操作容易等优点。本发明可用于直角反射棱镜装调过程中法平面铅垂度的检测。 |
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