| 专利名称 | 基于量子统计的高精度光学成像装置与方法 | 申请号 | CN201210364582.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102902056A | 公开（授权）日 | 2013.01.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 孙方稳;崔金明;郭光灿 | 主分类号 | G02B21/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B21/36(2006.01)I | 专利有效期 | 基于量子统计的高精度光学成像装置与方法 至基于量子统计的高精度光学成像装置与方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于量子统计的光学成像装置，包括激光共聚焦显微装置(1)、单光子计数统计装置(2)和主控装置(3)，其中，激光共聚焦显微装置(1)用于激发样品并收集样品发射的荧光，并将该荧光导入所述单光子计数统计装置(2)；单光子计数统计装置(2)用于接收来自激光共聚焦显微装置(1)的荧光信号，产生多个单光子计数信号和多光子符合计数信号，并向主控装置(3)输出多个单光子计数信号和多光子符合计数信号；主控装置(3)分别连接于所述激光共聚焦显微装置(1)和单光子计数统计装置(2)，用于产生控制信号并分别输出给激光共聚焦显微装置(1)和单光子计数统计装置(2)，以控制激光共聚焦显微装置(1)的共聚焦扫描与单光子计数统计装置(2)的数据采集同步。本发明能提供相邻物体的高精度成像和分辨，其精度不受瑞利极限限制。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障