| 专利名称 | 一种特异介质隐形结构快速测量装置 | 申请号 | CN201020539523.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201796090U | 公开（授权）日 | 2011.04.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 李凌云;孙晓玮;闻孺铭;钱蓉 | 主分类号 | G01R29/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R29/08(2006.01)I | 专利有效期 | 一种特异介质隐形结构快速测量装置 至一种特异介质隐形结构快速测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种特异介质隐形结构快速测量装置，包括：一个扁平的长方体金属盒，覆盖于金属盒的四个侧面的吸波材料，分别位于金属盒的相对的两个侧面上的输入端口和接收端口，分别与输入端口和接收端口经由微波电缆和波导同轴转换器连接的电磁波测量仪；其中，接收端口通过滑动窗口安装在金属盒的侧面，可以在该侧面向两侧自由移动。利用本装置在输入端口输入一个电磁波信号，电磁波信号在腔体内传输一段距离后，可以形成准二维的平面波，通过在接收端口对不同位置电磁波信号强度的测量，可以表征特异介质隐形结构的隐形效果。本实用新型可以有效降低测量装置的结构复杂性，缩短实验周期，而达到应有的测量效果。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障