| 专利名称 | 激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法和设备 | 申请号 | CN201010573795.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102034266A | 公开（授权）日 | 2011.04.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 田捷;韩冬;杨鑫;秦承虎;吴萍 | 主分类号 | G06T17/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T17/00(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I | 专利有效期 | 激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法和设备 至激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法和设备 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法，包括步骤：利用有限元理论首先将扩散方程表示为线性化方程；建立未知的荧光光源分布与边界测量数据之间的线性关系；计算余量相关度向量得到最相关元素集合；将最相关元素集合与当前支撑集合并，生成新的支撑集；利用支撑集将离散后的成像空间分为允许区域和禁止区域，建立表面荧光数据与允许区域的线性关系；将最终得到的解向量中的负元素替换为0。本发明基于扩散近似模型，充分地考虑了生物组织的非匀质特性。在光源重建过程中，基于L1范数的稀疏性约束，并将TFI问题看作是压缩感知问题，利用基于支撑集的重建方法进行光源定位，有效地避免了重建结果的过平滑现象，提高了TFI成像的精度。 |
1、源头对接，价格透明
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