| 专利名称 | 多波段红外辐射自动测量系统 | 申请号 | CN201010130439.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101793563A | 公开（授权）日 | 2010.08.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 张建;曹剑中;屈恩世;范哲源;焦国华 | 主分类号 | G01J5/54(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/54(2006.01)I;G01J5/08(2006.01)I | 专利有效期 | 多波段红外辐射自动测量系统 至多波段红外辐射自动测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种多波段红外辐射自动测量系统，可适时自动测量复杂背景下被测物在不同波段内的红外辐射特性，完全满足长期无故障自动观测辐射定标测量的需求。该多波段红外辐射自动测量系统包括扫描装置、分光装置、红外探测装置和控制系统/电路，其中扫描装置、分光装置、红外探测装置依次设置于辐射入射方向的光路上；扫描装置包括可旋转的保护窗、旋转反射镜和固定的双黑体校正组件。本发明使用光谱分光以及波段调制扫描技术，选用两个中、长波探测器与之匹配，增加了可测量的光学通道，有效形成对更多的长波和中波波段的辐射定标测量；且压缩了黑体辐射腔所要求的辐射尺寸，降低了黑体设计、制造的难度，提高了可控制的精度。 |
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