| 专利名称 | 双波长高反射镜反射率测量方法 | 申请号 | CN201010593093.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102128715A | 公开（授权）日 | 2011.07.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 李斌成;曲哲超;韩艳玲 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 双波长高反射镜反射率测量方法 至双波长高反射镜反射率测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 双波长高反射镜反射率测量方法，将光强周期性调制的两个不同波长的连续激光同时注入由两块或三块双波长高反射镜构成的稳定初始光学谐振腔，当初始光学谐振腔输出信号幅值高于设定阈值时，关断入射激光束，记录光腔衰荡信号；或者在调制信号的下降沿记录光腔衰荡信号，并利用同时测量法或分光探测法或交替测量法得到初始光学谐振腔在两激光波长处的衰荡时间τ01、τ02，计算出腔镜在两波长处的平均反射率R01、R02；同样，在初始光学谐振腔内根据使用角度加入待测双波长高反射镜构成稳定的测试光学谐振腔，利用同时测量法或分光探测法或交替测量法得到测试光学谐振腔情况下两激光波长的衰荡时间τ1、τ2，得到待测双波长高反射镜在两波长处的反射率R1、R2。 |
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