Si/NiSi核壳结构纳米线阵列的制备方法

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专利名称 Si/NiSi核壳结构纳米线阵列的制备方法 申请号 CN201110038941.0 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN102127817A 公开(授权)日 2011.07.20 申请(专利权)人 中国科学院理化技术研究所 发明(设计)人 师文生;刘海龙;佘广为 主分类号 C30B33/00(2006.01)I IPC主分类号 C30B33/00(2006.01)I;H01L21/00(2006.01)I 专利有效期 Si/NiSi核壳结构纳米线阵列的制备方法 至Si/NiSi核壳结构纳米线阵列的制备方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明属于半导体纳米线阵列的制备技术领域,特别涉及Si/NiSi核壳结构纳米线阵列的制备方法。将表面刻蚀出垂直定向排列的硅纳米线阵列的单晶硅基片置于NiCl2溶液中进行浸泡,取出后晾干;再将晾干的单晶硅基片放入氧化铝瓷舟中,并放入管式炉的中心加热;在加热过程中,通入惰性气体作为保护气,最终在单晶硅基片上得到Si/NiSi核壳结构纳米线阵列。本发明的制备方法简单易行,所制备的Si/NiSi核壳结构纳米线阵列具有极低的电阻率,在基于Si纳米线器件领域具有巨大的潜在应用价值。

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