| 专利名称 | 一种非平衡状态下赛贝克系数的测量系统及其测量方法 | 申请号 | CN200410084659.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1616953 | 公开（授权）日 | 2005.05.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明（设计）人 | 史迅;陈立东;黄向阳;王东立;柏胜强;姚琴;蒋俊 | 主分类号 | G01N27/00 | IPC主分类号 | G01N27/00;G01N27/14 | 专利有效期 | 一种非平衡状态下赛贝克系数的测量系统及其测量方法 至一种非平衡状态下赛贝克系数的测量系统及其测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种非平衡状态下赛贝克系数的测 量系统及其测量方法。所述的测量系统包括样品支架、温差控 制装置以及计算机控制；样品通过固定支架固定在支架上，且 通过温差控制装置采用一端加热或冷却形成温差方法，样品上 的T1、 T2和ΔE电信号由支架装置引出 到测试仪表的扫描卡，扫描卡按 T1、 T2、ΔE、 T2、 T1的扫描顺序依次扫描，输入纳 伏仪且在计算机中获得数据，取两次 T1和 T2平均值计算出ΔT，按所得ΔE －ΔT关系，计算出赛贝克系数。本发明解决了ΔT的大小与 测量精度相互矛盾的问题，每个温度点测量周期小于10分钟 且对样品无特殊要求。 |
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