| 专利名称 | 超速时延测试系统及测试方法 | 申请号 | CN201010033983.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101764125A | 公开（授权）日 | 2010.06.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 裴颂伟;李华伟;李晓维 | 主分类号 | H01L23/544(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L23/544(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I | 专利有效期 | 超速时延测试系统及测试方法 至超速时延测试系统及测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种超速时延测试系统和方法，系统包括时钟信号选择器和位于被测电路扫描链上的测试时钟生成模块。所述测试时钟生成模块，用于根据在扫描移入阶段扫描移入的控制位生成测试时钟，将所述测试时钟输入所述时钟信号选择器；所述测试时钟包含加载边缘和捕获边缘，所述加载边缘和所述捕获边缘的时延差代表超速测试时的时钟周期。所述时钟信号选择器，根据选择信号和全局扫描使能信号，从所述测试时钟、被测电路的工作时钟、和扫描时钟中选择，将选择的时钟输入被测电路时钟树上，用于支持完成所期望的时延测试。本发明通过在片内生成频率可编程的测试时钟，能够有效检测被测电路中的小时延缺陷。 |
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