| 专利名称 | 基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法 | 申请号 | CN201110082661.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102221348A | 公开（授权）日 | 2011.10.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 侯溪;杨鹏;伍凡;范斌;万勇建 | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | 专利有效期 | 基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法 至基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法，该方法通过对一个“猫眼”位置干涉测量和多个共焦位置干涉测量结果进行数据处理直接获得与参考面误差无关的被测球面光学元件面形误差信息。多特征匹配根据设置在被测球面光学元件表面的多个特征标记在共焦位置测量数据中形成的特征形状进行准确的旋转角度控制和数据匹配，然后将多组由“猫眼”位置测量、被测球面光学元件某一共焦位置测量和与之相对旋转180度后共焦位置测量组成的三位置法计算结果进行平均处理，以提高被测球面光学元件绝对面形误差的准确性。本发明无需复杂的调整机构和辅助对准装置，同时可避免反复进行光路调整，在实际操作中的方便性和绝对测量结果的准确性之间保持了较好的平衡，具有较大的应用价值。 |
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