| 专利名称 | 对射光束同轴误差的测量方法 | 申请号 | CN201110063651.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102226689A | 公开（授权）日 | 2011.10.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 吕德胜;赵剑波;屈求智;汪斌;刘亮;王育竹 | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 对射光束同轴误差的测量方法 至对射光束同轴误差的测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种对射光束同轴误差的测量方法，该方法通过一个分束棱镜、二维平移调整器、角反射器、光强探测器和观测屏，可以测量两束对射重合光的重合误差，本发明方法具有设备简单、容易观测，测量方便，对射光束的同轴调整快捷方便、准确可靠的特点。 |
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