| 专利名称 | 电力电子器件的加速寿命测试电路及测试方法 | 申请号 | CN201210135131.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102680819A | 公开（授权）日 | 2012.09.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 张瑾;仇志杰 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I | 专利有效期 | 电力电子器件的加速寿命测试电路及测试方法 至电力电子器件的加速寿命测试电路及测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种电力电子器件的加速寿命测试电路，其第一开关(K1)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第一开关(K1)的另一端与被测器件的栅极(G)相连。放电电阻(R1)的一端与被测器件的栅极(G)相连，放电电阻(R1)的另一端与被测器件的源极(S)相连。恒流测试电源的正极与被测器件的漏极(D)相连，恒流测试电源的负极与被测器件的源极(S)相连。失效判断电路的两个输入端分别与测试电源的正极和负极相连。第二开关(K2)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第二开关(K2)的另一端与恒流加热电源的正极相连，恒流加热电源的负极与被测器件的源极(S)相连。 |
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