一种多波前校正器件的解耦控制方法

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专利名称 一种多波前校正器件的解耦控制方法 申请号 CN201210124281.2 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN102681165A 公开(授权)日 2012.09.19 申请(专利权)人 中国科学院光电技术研究所 发明(设计)人 刘文劲;宁禹;晏虎;董理治;雷翔;王帅;杨平;许冰 主分类号 G02B26/06(2006.01)I IPC主分类号 G02B26/06(2006.01)I;G01J9/00(2006.01)I 专利有效期 一种多波前校正器件的解耦控制方法 至一种多波前校正器件的解耦控制方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明是一种多波前校正器件的解耦控制方法如下:(1)利用哈特曼波前传感器进行像差探测,并将哈特曼波前传感器所获像差斜率信息分解为低阶像差模式系数与高阶像差斜率信息两部分;(2)利用低阶像差模式系数作为中间控制参量,控制低阶像差波前校正器件工作;(3)利用高阶像差斜率信息控制高阶像差波前校正器件工作。本发明的解耦控制方法能够有效驱动多个波前校正器件同时进行像差校正,并能够抑制多个波前校正器件之间的耦合误差累积,最终实现对自适应光学系统行程量与校正精度的有效提升。

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