| 专利名称 | 原子力显微镜的力示踪方法 | 申请号 | CN201210146642.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102662087A | 公开（授权）日 | 2012.09.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春应用化学研究所 | 发明（设计）人 | 王宏达;潘延刚;蒋俊光;单玉萍;蔡明军 | 主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I | IPC主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I;G01Q60/26(2010.01)I | 专利有效期 | 原子力显微镜的力示踪方法 至原子力显微镜的力示踪方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 原子力显微镜的力示踪方法，涉及微观力测量方法技术领域，解决了现有的AFM单分子力谱法检测到的力信号容易被认为是AFM探针本身运动产生的而不是细胞表面上的动态过程产生的问题。原子力显微镜的力示踪方法，在反馈调节系统的控制下完成进针后，关闭反馈调节系统，通过得到的力-距离曲线确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置；AFM探针逐渐逼近被测物表面，当AFM探针和被测物表面刚好接触时，关闭反馈调节系统并停止进针，微悬臂随即发生偏转；利用数据采集卡采集微悬臂偏转随时间变化关系。本发明避免了压电陶瓷扫描器驱动AFM探针在Z方向的运动对被测物表面动态过程研究的影响。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障