| 专利名称 | 用于扫描探针显微镜的可升温样品平台 | 申请号 | CN00257823.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN2443365 | 公开（授权）日 | 2001.08.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院低温技术实验中心 | 发明（设计）人 | 刘静;周一欣 | 主分类号 | G01N13/10 | IPC主分类号 | G01N13/10;G01N1/44 | 专利有效期 | 用于扫描探针显微镜的可升温样品平台 至用于扫描探针显微镜的可升温样品平台 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及的可升温样品平台,包括铜块样 品台、加热元件、测温传感元件及加热、控温电路等,其内装有 加热元件的铜块样品台固定在空心支撑件上端盖上,其露出支 撑件中外的端部安装测温传感元件,位于支撑件内的外表面上 覆有绝热材料,绝热材料底部与支撑件之间留有间隙,支撑件底 端固定在绝热基底上;其结构简单、价格低廉,测温精度高,动态 响应速度快,变温范围宽,不需增加任何辅助设备,便适用所有普 通扫描探针显微镜。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障