| 专利名称 | 一种传导冷却式超导接头电阻测量装置 | 申请号 | CN201010182047.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101839943A | 公开（授权）日 | 2010.09.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 陈顺中;王晖;崔春燕 | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/02(2006.01)I;G01R33/07(2006.01)I | 专利有效期 | 一种传导冷却式超导接头电阻测量装置 至一种传导冷却式超导接头电阻测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种传导冷却式超导接头电阻测量装置，包括低温系统和样品室。样品室由背场超导磁体(9)、超导互感器(10)和样品槽(11)组成，它们都放置在40k热辐射屏(4)内部并通过导热结构(8)连接并固定在GM制冷机(1)的二级冷头(7)上。样品单匝闭合环(15)嵌在样品槽(11)内，而超导接头(14)置于背场超导磁体(9)的内孔中心。通过超导互感器(10)给单匝闭合环(15)感应一定大小的电流，然后利用真空容器(2)的下底板中心的室温孔(13)，在外界使用常规霍尔探头来测量单匝闭合环(15)中心磁场的大小，计算出单匝闭合环(15)中电流的大小，测量出两个不同时间点的电流值就可以计算出超导接头实际的电阻值。 |
1、源头对接，价格透明
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