| 专利名称 | 一种二阶非线性光学测试系统 | 申请号 | CN200710008880.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101295117 | 公开（授权）日 | 2008.10.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院福建物质结构研究所 | 发明（设计）人 | 邹建平;张戈;黄呈辉;郭国聪 | 主分类号 | G02F1/35(2006.01)I | IPC主分类号 | G02F1/35(2006.01)I | 专利有效期 | 一种二阶非线性光学测试系统 至一种二阶非线性光学测试系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种二阶非线性光学测试系统，涉及光学测试系统的研制。该测试系统的最 大特点是该系统在激光激发样品产生的倍频光及其它光效应产生的非倍频光后 入射至谱仪，通过谱仪把倍频光和非倍频光分开，在谱仪后采用阵列探测器进 行探测，从而实现对倍频光和非倍频光的识别，进而实现对材料的倍频效应进 行定性和定量测试，具有对材料的倍频光高分辨率、高灵敏度的优点，有利于 弱信号二阶非线性光学效应的测试，同时它适合于可见近红外以及中远红外二 阶非线性光学效应的测试。 |
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