一种垂直型NROM存储结构及其制备方法

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专利名称 一种垂直型NROM存储结构及其制备方法 申请号 CN201010573812.7 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN102479823A 公开(授权)日 2012.05.30 申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 霍宗亮;刘明;刘璟;张满红 主分类号 H01L29/792(2006.01)I IPC主分类号 H01L29/792(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 专利有效期 一种垂直型NROM存储结构及其制备方法 至一种垂直型NROM存储结构及其制备方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开了一种垂直型NROM存储结构及其制备方法。该垂直型NROM存储结构包括:硅衬底;位于硅衬底表面的浅槽隔离区;位于硅衬底表面,被浅槽隔离区包围的漏极;位于漏极上方的竖直沟道;位于竖直沟道上端,被隔离介质包围的漏极区域;形成于竖直沟道表面的存储功能层堆栈结构;在沟道表面分隔存储功能层堆栈结构的隔离介质层;以及栅电极。本发明提供的垂直型NROM存储结构可以在一个存储单元中实现4-bit以上数据存储,由于引入了隔离介质来抑制相邻存储位之间的串扰,所以相比于平面结构的NROM器件,该结构可以满足进一步的变比要求。该存储器件有效利用了竖直方向的空间,极大的提高了集成密度。

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