| 专利名称 | 高功率激光远场焦斑测试用纹影器件 | 申请号 | CN201010568941.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102486405A | 公开（授权）日 | 2012.06.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 达争尚;李红光;董晓娜;孙策 | 主分类号 | G01J1/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/04(2006.01)I | 专利有效期 | 高功率激光远场焦斑测试用纹影器件 至高功率激光远场焦斑测试用纹影器件 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种高功率激光远场焦斑测试用纹影器件，包括挡光片以及设置于挡光片外部的透光罩。本发明提供了一种挡光效果好，耐激光辐照以及不会对测量造成任何影响的高功率激光远场焦斑测试用纹影器件。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障