| 专利名称 | 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件 | 申请号 | CN200810100564.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101281134 | 公开（授权）日 | 2008.10.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 毛庆和;廖艳林 | 主分类号 | G01N21/65(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/65(2006.01)I | 专利有效期 | 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件 至纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件，激光器作为有毒物 质的激发光源将激光耦合到光纤中，进入第一环形器，从第一环形器上输出激光 照射在粘有有毒物质的纳米衬底上，由于表面增强拉曼散射效应产生拉曼信号 光，相对于激发光源频率有一个频移的拉曼信号，返回第一环形器；再到达第二 环形器经过可调光纤布拉格光栅，使信号光返回进入第二环形器，并从探测端口 输出到光探测器，由光探测器测量信号光光强，分辨该待测有毒物质。在本发明 中，调节可调光纤布拉格光栅，如果光探测器探测到有光信号，可以通过可调光 纤布拉格光栅的调节装置的调节状态得到该信号光的频率，这样就可以检测该待 测有毒物质。该发明的测量精度高，且操作简单易实现。 |
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