| 专利名称 | 一种基于S形光子密度调整的目标检测装置 | 申请号 | CN200710064390.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101264009 | 公开（授权）日 | 2008.09.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 赵青;蒋田仔;吉利军 | 主分类号 | A61B5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B5/00(2006.01)I;G06F19/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于S形光子密度调整的目标检测装置 至一种基于S形光子密度调整的目标检测装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开基于光子密度S形调整的目标检测装置，要解决以往近 红外检测设备对深层结构不敏感，检测效果差的问题。包括正弦波发生 器、电-光转换器、激光光源探头、激光接收探头、光子密度计算器、光 子密度信息转换器、成像装置。本发明对光子密度进行了如下调整：对 接近检测目标表面的光子密度乘以较小的系数；对接近检测目标深层结 构的光子密度乘以较大的系数；所乘系数自检测目标表面至检测目标深 层结构呈S形增大。S形调整可降低检测目标表面与检测目标深层结构 光子密度对比度，提高近红外检测方法对深层结构的敏感度，降低图像 的噪声，提高图像的质量，有利于乳腺肿瘤的诊断。该装置可用于女性 乳腺肿瘤的近红外无创检测。 |
1、源头对接，价格透明
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