一种基于标记物的关键点检测的定位测量方法

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专利名称 一种基于标记物的关键点检测的定位测量方法 申请号 CN201010244950.0 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101915573A 公开(授权)日 2010.12.15 申请(专利权)人 中国科学院自动化研究所 发明(设计)人 王欣刚;吴亮;安闻川 主分类号 G01C15/00(2006.01)I IPC主分类号 G01C15/00(2006.01)I;G01C15/02(2006.01)I;G01C11/00(2006.01)I 专利有效期 一种基于标记物的关键点检测的定位测量方法 至一种基于标记物的关键点检测的定位测量方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明是一种基于标记物的关键点检测的定位测量方法,分为四个部分:第一,标尺和标记物的设计,实现了环境适应性强、方便使用制作的标尺和标记物;第二,用于标定的标尺检测,根据自定义分割函数对压缩后的图像实施多阈值分割,并通过轮廓检测、多边形拟合等方法定位标尺;第三,标记物的关键点检测,主要采用了直方图匹配、灰度投影法、霍夫变换线段检测以及最小二乘法直线拟合等方法检测定位关键点;第四,三维世界坐标的重建,这里采用摄影测量的二维方法。本发明提到的多阈值分割以及将霍夫变换与最小二乘法相结合来定位直线等方法,提高了算法的性能和精度。本发明应用范围广泛,适用各种基于关键点检测的定位测量问题。

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