| 专利名称 | RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法 | 申请号 | CN200910087129.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101931472A | 公开（授权）日 | 2010.12.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 刘禹;关强;刘怀达;赵健 | 主分类号 | H04B17/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H04B17/00(2006.01)I;H04B1/10(2006.01)I;H04B1/713(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I | 专利有效期 | RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法 至RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明为一种RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法，由标准测试环境、读写器发射天线、信号源发射天线、接收天线、电子标签、读写器天线支架、信号源天线支架、接收天线支架、待测读写器、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成，其方法是通过人为施加功率、频率可控的RFID读写器模拟邻道干扰信号，统计在可接受读取率下的最大邻道干扰强度，从而科学的、可重复的对RFID读写器的抗邻道干扰能力进行评价，在相同的可接受读取率下，邻道干扰越强就说明该待测读写器的抗邻道干扰能力越强。通过模拟RFID读写器的邻道干扰对读写器的读取率进行测试，为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。 |
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