| 专利名称 | 一种单粒子辐射效应检测方法 | 申请号 | CN201210593077.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103033524A | 公开（授权）日 | 2013.04.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 谢朝辉;刘海南;周玉梅;黑勇;王德坤;赵明琦 | 主分类号 | G01N23/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种单粒子辐射效应检测方法 至一种单粒子辐射效应检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种单粒子辐射效应检测方法，应用于包括多个相同测试样品的单粒子辐射效应检测系统，该方法包括：从该多个相同的待测的测试样品中，将一个所述测试样品确定为主测试样品，将该多个相同的测试样品中除所述主测试样品外所有测试样品均确定为辅助测试样品；控制该主测试样品接受辐射的辐射过程；同时向该主测试样品和辅助测试样品发送测试激励；同时获取该主测试样品和该辅助测试样品对应端口的测试响应数据；依据该辅助测试样品对应端口的测试响应数据，确定出参考响应数据，并与该主测试样品产生的所述对应端口的所述测试响应数据进行比较，得到该测试样品出现的单粒子辐射效应，大大提高了检测方法的通用性。 |
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