| 专利名称 | 超光谱成像仪短波红外实验室光谱定标校正方法 | 申请号 | CN201210019384.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102538966A | 公开（授权）日 | 2012.07.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 栗琳;巩彩兰;孟鹏;胡勇 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I | 专利有效期 | 超光谱成像仪短波红外实验室光谱定标校正方法 至超光谱成像仪短波红外实验室光谱定标校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种超光谱成像仪短波红外波段(1000-2500nm)的实验室光谱定标校正方法。它基于单色仪扫描法基础上，通过采集校正波段并利用数值计算和线性回归分析求其通道偏移量同时间偏移量的关系，建立谱线漂移校正模型，最后根据谱线漂移校正模型特征对短波红外全波段数据进行谱线漂移校正。通过本发明的超光谱成像仪实验室光谱定标校正方法能够很好地修正由于成像仪仪器内部产热而导致的谱线波长向长波漂移问题。在定标精度允许的范围内，模型可靠且时间漂移规律具有重复性，有实用价值。本文提出的解决方案已经实际应用到了超光谱成像仪的实验室光谱定标方法中，所提出的模型可为其他同类型遥感器出现类似情况时提供参考依据。 |
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