| 专利名称 | 天基探测与跟踪成像系统的测试装置 | 申请号 | CN201120463620.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202329647U | 公开（授权）日 | 2012.07.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 田留德;张周峰;薛勋;赵建科;赛建刚;曹昆;周艳 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 天基探测与跟踪成像系统的测试装置 至天基探测与跟踪成像系统的测试装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型提供一种天基探测与跟踪成像系统测试装置，包括气浮台(1)、高精度动靶标(4)、搭载于高精度动靶标上用以提供无穷远拍摄目标的平行光管、以及安装于气浮台(1)上的角速度测量装置；天基探测与跟踪成像系统作为被测系统(5)同轴固定安装于气浮台(1)的转动台面上，且被测系统的三轴交点为高精度动靶标(4)旋转光锥顶点；转动平台沿其切线方向栓接牵引线并通过绕接定滑轮悬挂砝码(2)，利用砝码自重对转动平台施加切向力。本实用新型实现了对天基探测与跟踪成像系统多个重要性能指标的测试，从而进行进一步的调整和优化，保证产品的质量，确保天基探测与跟踪成像系统质量和在轨正常运行。 |
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