| 专利名称 | 超导磁悬浮转子漂移测试装置及测试方法 | 申请号 | CN201210032521.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102565724A | 公开（授权）日 | 2012.07.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 胡新宁;王秋良;崔春艳;戴银明;王晖;王厚生 | 主分类号 | G01R33/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/02(2006.01)I;G01R33/12(2006.01)I | 专利有效期 | 超导磁悬浮转子漂移测试装置及测试方法 至超导磁悬浮转子漂移测试装置及测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种超导磁悬浮转子漂移测试装置，其旋转平台(2)上安放倾斜轴(3)，倾斜轴(3)上装有外旋转轴(4)，外旋转轴(4)的中间位置安装有内旋转轴(14)，在内旋转轴(14)上固定内旋转轴夹具(15)，低温容器(5)固定在内旋转轴夹具(15)上。在指定的空间坐标系下，通过伺服系统控制外旋转轴(4)和内旋转轴(14)的转动，使光电传感器(12)的输出信号变化率为零，并记录外旋转轴(4)和内旋转轴(14)的转动角度，通过建立的漂移测试数学模型公式，计算得到超导磁悬浮转子(10)漂移角速度ωd的大小。 |
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