| 专利名称 | 一种多步单斜模拟数字信号转换装置 | 申请号 | CN201210015324.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102545902A | 公开（授权）日 | 2012.07.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 李全良;吴南健;韩烨;石匆 | 主分类号 | H03M1/56(2006.01)I | IPC主分类号 | H03M1/56(2006.01)I | 专利有效期 | 一种多步单斜模拟数字信号转换装置 至一种多步单斜模拟数字信号转换装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种多步单斜模拟数字信号转换装置，包括采样保持求余放大模块、斜坡和参考电压产生模块、比较器、计数器、控制信号发生器、数字校正单元和输出模块，输入电压Vin被采样保持求余放大模块采样后作为比较器的一个输入信号VSH1，与斜坡电压Vramp进行比较，Vramp随计数器输出值的增加而线性增加，当Vramp大于VSH1时，比较器输出发生跳变，触发数字校正单元内的寄存器锁存此时计数器的值，即ADC的第1步量化值；第2，...，NS步量化过程与第1步量化过程一样；以上NS步量化得到的值，经数字校正单元内的校正电路校正后寄存在输出模块内，在控制信号发生器的控制下移位串行或并行输出。本发明与传统的单斜ADC相比，具有速度快、对比较器指标要求低等优点。 |
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