| 专利名称 | 老化预测和超速时延测试双功能的系统及方法 | 申请号 | CN201010181640.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101852839A | 公开（授权）日 | 2010.10.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 靳松;韩银和;李华伟;李晓维 | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 专利有效期 | 老化预测和超速时延测试双功能的系统及方法 至老化预测和超速时延测试双功能的系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及老化预测和超速时延测试双功能的系统和方法，系统包括：时钟信号生成模块，用于根据第一控制向量生成可编程时钟信号，根据第二控制向量生成多个测试时钟信号；工作模式及时钟选择模块，用于根据控制信号确定系统的工作模式，并在可编程时钟信号、系统功能时钟信号和测试时钟信号中选择，将选择的信号输入到目标电路的系统时钟树，以进行对应的工作模式的操作；工作模式包括，正常工作模式，老化预测模式，以及超速时延测试模式；电路响应捕获模块，用于在当前模式为老化预测模式时，在捕获区间捕获目标电路的响应，并根据是否在捕获区间内出现信号跳变而产生相应的报警信号。本发明能够进行超速时延测试和在线电路老化预测。 |
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