| 专利名称 | 全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法 | 申请号 | CN201210015266.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102538971A | 公开（授权）日 | 2012.07.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 曹绍谦;步鹏;步扬;王向朝;汤飞龙;李中梁 | 主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | 专利有效期 | 全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法 至全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法，该装置包括：补偿器、微偏振检偏器阵列、CCD探测器阵列、放大器、同步数据采集卡、计算机系统及偏压控制器。该方法包括：改变偏控电压，得到电光延迟为2π的光强矩阵；改变偏控电压，得到电光延迟为π/2的光强矩阵；对两个光强矩阵进行数据处理即可获得全光场全斯托克斯参量。本发明具有共光轴且结构简单、稳定、高空间分辨率和测量速度快的特点。 |
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