| 专利名称 | 一种优化综合孔径阵构型的方法 | 申请号 | CN201110405375.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102567573A | 公开（授权）日 | 2012.07.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院国家天文台;清华大学 | 发明（设计）人 | 苏彦;周建峰 | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 一种优化综合孔径阵构型的方法 至一种优化综合孔径阵构型的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种优化新型综合孔径阵构型的方法。综合孔径阵成像技术是实现极高分辨率天文观测的有效手段，对研究宇宙中一些天体如活动星系核、X射线双星等起着至关重要的作用；综合孔径阵的构型直接影响着成像的质量，因此构型的优化设计对建设大型的综合孔径阵十分关键。本优化方法首次将库伦场的概念引入到优化设计中，库伦力的作用促使阵构型向优化的方向演化，通过设置额外的耗散力，最终得到最优化的阵构型。库伦场的引入使得阵构型的优化设计更为精确，并大大降低优化的计算量。另外，本优化方法首次将势能作为评价综合孔径阵构型优劣的指标，使得将阵构型的优化建立在合理的物理基础之上。 |
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