| 专利名称 | 一种光栅尺周期内精度的自动检测装置 | 申请号 | CN201110449419.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102564307A | 公开（授权）日 | 2012.07.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 曾琪峰;吴宏圣;乔栋;孟辉;孙强;张立华 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光栅尺周期内精度的自动检测装置 至一种光栅尺周期内精度的自动检测装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种光栅尺周期内精度的自动检测装置，涉及一种光栅尺周期内精度的自动检测装置，它解决现有测量方法采用标准件作为待检测光栅尺的衡量标准时存在误差，设备费用较高，同时设备的结构存在误差，检验精度受到标准件限制的问题，该装置包括数据采集模块、速度计算模块、数据存储模块和数据分析模块，数据采集模块从读数头中采集读数头在主光栅上位置值；速度计算模块根据数据采集模块采集的读数头在主光栅上的位置值并计算当前的读数头在主光栅上的移位速度；数据存储模块根据速度计算模块获得的读数头的移位速度对读数头在主光栅上的位置值进行选择；数据分析模块通过数据存储模块选择读数头的位置值进行统计分析并获得分析结果。 |
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