肖特基二极管、半导体存储器及其制造工艺

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专利名称 肖特基二极管、半导体存储器及其制造工艺 申请号 CN201010199669.X 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101882617A 公开(授权)日 2010.11.10 申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 张挺;宋志棠;刘波;封松林 主分类号 H01L27/08(2006.01)I IPC主分类号 H01L27/08(2006.01)I;H01L27/24(2006.01)I;H01L21/82(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I 专利有效期 肖特基二极管、半导体存储器及其制造工艺 至肖特基二极管、半导体存储器及其制造工艺 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明揭示了一种肖特基二极管、半导体存储器及其制造工艺,所述存储器包含字/位线、半导体层、第一金属层、第二金属层、绝缘材料、电阻转换存储单元;字/位线之间的隔离依靠第一浅沟槽实现,而同一字/位线上方的肖特基二极管单元的隔离依靠第二浅沟槽实现;所述第一浅沟槽深于第二浅沟槽。本发明采用新型结构的肖特基二极管,可通过简单的工艺制造出存储器装置,实现存储器器件成本的大幅降低。

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