| 专利名称 | 一种单粒子效应探测装置及方法 | 申请号 | CN200910086516.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101907662A | 公开（授权）日 | 2010.12.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 韩建伟;马英起;封国强;安广鹏;张振龙 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R31/316(2006.01)I | 专利有效期 | 一种单粒子效应探测装置及方法 至一种单粒子效应探测装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种单粒子效应探测装置，包括光耦传感器工作单元、SET幅度甄别单元额和SET计数单元；所述光耦传感器工作单元用于在待测辐射环境中获取SET信号，所述SET幅度甄别单元用于将光耦传感器工作单元获取的SET信号幅度与阈电压进行对比后甄别出不同的SET信号的幅度范围，所述SET计数单元用于统计处于各幅度区间的SET信号的出现次数。本发明还可以进一步包括数据映射单元。本发明能够实现对数个、十余个MeV.cm2/mg?LET的值甚至该量级以下的辐射环境的测量；能够定量测量表征特定微电子器件单粒子效应的LET值；具有较宽的LET值定量测量范围；并且所使用的传感器体积和质量小，电路结构简单，利于探测装置器件的轻小型化和低功耗化。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障