| 专利名称 | 测量超导线圈失超传播速度的装置及其测量方法 | 申请号 | CN201010540138.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102023268A | 公开（授权）日 | 2011.04.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 胡新宁;王秋良;李毅;崔春艳;戴银明;李兰凯 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 专利有效期 | 测量超导线圈失超传播速度的装置及其测量方法 至测量超导线圈失超传播速度的装置及其测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明测量超导线圈失超传播速度的装置，通过背场超导磁体(4)实现一定的背景磁场，利用制冷机(2)和低温液体提供两种低温工作环境。被测超导线圈(5)安装在低温容器(8)内。被测超导线圈(5)包括被测超导线圈疏绕部分(15)和被测超导线圈密绕部分(16)，分别用于测量被测超导线圈(5)沿导线方向上的失超传播速度和沿径向方向上的失超传播速度。本装置可实现超导线圈在二维方向上失超传播速度的测量，测量精确。 |
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