| 专利名称 | 一种高气压放电产生冷等离子体的方法及介质阻挡放电装置 | 申请号 | CN201010594652.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102056392A | 公开（授权）日 | 2011.05.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 夏维东;周志鹏;张济民;叶桃红 | 主分类号 | H05H1/24(2006.01)I | IPC主分类号 | H05H1/24(2006.01)I | 专利有效期 | 一种高气压放电产生冷等离子体的方法及介质阻挡放电装置 至一种高气压放电产生冷等离子体的方法及介质阻挡放电装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及到高气压下气体放电产生冷等离子体的方法，以及使用这种方法的介质阻挡放电装置。其方法是对施加电场的放电空间添加分散的导电颗粒，导电颗粒引起电场畸变，电晕放电首先发生在导电颗粒表面附近，放电通道大致沿电力线主导的方向发展。放电及产生的冷等离子体在空间分布均匀性和密度由导电颗粒分布主导。在介质阻挡放电装置中，添加分散的导电颗粒，可以使放电空间所施加的平均电场强度低于气体的临界击穿场强。因此这种放电及产生冷等离子体在空间分布更均匀，且可以降低放电所需的电压，可广泛用于各种气相等离子体化学反应。 |
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